Metallographic and materialographic specimen preparation, light microscopy, image analysis and hardness testing [electronics resource] /
51
主要作者: | |
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格式: | |
語言: | eng |
出版: |
West Conshohocken, PA : ASTM International,
2007
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主題: |
51
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語言: | eng |
出版: |
West Conshohocken, PA : ASTM International,
2007
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主題: |