Scanning probe microscopy and spectroscopy : theory, techniques, and applications /

Scanning probe microscopy and spectroscopy : theory, techniques, and applications /

Includes bibliographical references

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Bonnell, Dawn A.
פורמט:
שפה:	eng
יצא לאור:	New York : Wiley-VCH, c200
נושאים:	Scanning probe microscopy Tunneling spectroscopy

פריטים דומים

Roadmap of scanning probe microscopy /
מאת: Morita, S. (Seizo), 1948-
יצא לאור: (2007)

Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques /
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2009)

Scanning probe microscopy /
מאת: Tomczak, Nikodem, et al.
יצא לאור: (c201)

Scanning probe microscopy /
מאת: Wright, Kate, editor
יצא לאור: (2015)

Exploring scanning probe microscopy with Mathematica /
מאת: 296580 Sarid, Dror
יצא לאור: (2007)

Applied scanning probe methods : scanning probe microscopy techniques /
מאת: Bhushan, Bharat, 1949-
יצא לאור: (2006)

Scanning probe microscopy and spectroscopy : methods and applications /
מאת: Wiesendanger, R. (Roland), 1961-
יצא לאור: (1994)

Exploring scanning probe microscopy with Mathematica [compact disc] /
מאת: 296580 Sarid, Dror
יצא לאור: (2007)

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
מאת: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, et al.
יצא לאור: (2006)

Acoustic scanning probe microscopy /
מאת: Marinello, Francesco, et al.
יצא לאור: (2012)

Applied Scanning Probe Methods V [electronic book]: Scanning Probe Microscopy Techniques/
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2007)

Scanning probe microscopies beyond imaging : manipulation of molecules and nanostructures /
מאת: Samori, Paolo
יצא לאור: (2006)

Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /
מאת: Klapetek, Petr
יצא לאור: (2013)

Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /
מאת: Kalinin, S.V. (Sergei Vasil), et al.
יצא לאור: (2007)

Introduction to scanning tunneling microscopy /
מאת: 286278 Chen, C. Julian
יצא לאור: (2008)

Applied scanning probe methods XIII : biomimetics and industrial applications /
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2009)

Applied scanning probe methods XII : characterization /
מאת: 185900 Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2008)

Atom Probe Microscopy /
מאת: Gault, Baptiste author 632642, et al.
יצא לאור: (2012)

Applied scanning probe methods VII : biomimetics and industrial applications /
מאת: Bhushan, Bharat, 1949-, et al.
יצא לאור: (2007)

Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy /
מאת: Cohen, Samuel H., et al.
יצא לאור: (1994)

Scanning probe microscopy : the lab on a tip /
מאת: Meyer, E. (Ernst), 1962-, et al.
יצא לאור: (2004)

Force microscopy : applications in biology and medicine /
מאת: Jena, Bhanu P., et al.
יצא לאור: (2006)

Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
מאת: Zhou, Weilie, et al.
יצא לאור: (2007)

Scanning tunneling microscopy and its application /
מאת: 178878 Bai, Chunli
יצא לאור: (2000)

Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology /
מאת: 220228 Reed, S. J. B.
יצא לאור: (2005)

Scanning tunneling microscopy in surface science, nanoscience and catalysis /
מאת: Bowker, M. (Michael), et al.
יצא לאור: (2010)

Scanning electrochemical microscopy /
מאת: Bard, Allen J.
יצא לאור: (2001)

On-surface stereochemical characterization of a highly curved chiral nanographene by noncontact atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy
מאת: Zhong, Qigang, et al.
יצא לאור: (2024)

Scanning and transmission electron microscopy : an introduction /
מאת: Flegler, Stanley L., et al.
יצא לאור: ([199)

Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy : route to femtosecond angstrom technology /
מאת: 466275 Yamashita, M., et al.
יצא לאור: (2005)

Machine learning enhanced scanning tunneling microscopy (STM)
מאת: Tang, Brian Te Song
יצא לאור: (2024)

Scanning electron microscopy for the life sciences /
מאת: 410173 Schatten, Heide
יצא לאור: (2012)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
מאת: 371604 Lee, Robert Edward
יצא לאור: (1993)

Scanning Probe Microscopy /
מאת: Derosa, Jacinda, author 647872
יצא לאור: (2012)

Principles and practice of variable pressure : environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM) /
מאת: 365423 Stokes, Debbie
יצא לאור: (2008)

Scanning probe microscopes : applications in science and technology /
מאת: 377656 Birdi, K.S.
יצא לאור: (2003)

The applications of quantitative scanning transmission electron microscopy to the analysis of intracellular elemental distributions
מאת: Sheader, AA
יצא לאור: (2021)

Effects of pupil filter patterns in line-scan focal modulation microscopy
מאת: Shen, Shuhao, et al.
יצא לאור: (2018)

Tunneling Spectroscopy : Capabilities, Applications and New Techniques /
מאת: Hansma, Paul K., editor 445976
יצא לאור: (1982)

Superstructure formation and faceting in the Cu(210)-O system studied by scanning tunneling microscopy
מאת: Wee, A, et al.
יצא לאור: (1998)