Reliability of nanoscale circuits and systems : methodologies and circuit architectures /

Includes bibliographical references (p. 177-190) and index

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: 515324 Stanisavljevic, Milos, Schmid, Alexandre, Leblebici, Yusuf
التنسيق:
اللغة:eng
منشور في: New York : Springer, 2011
الموضوعات: