Reliability of nanoscale circuits and systems : methodologies and circuit architectures /
Includes bibliographical references (p. 177-190) and index
المؤلفون الرئيسيون: | , , |
---|---|
التنسيق: | |
اللغة: | eng |
منشور في: |
New York : Springer,
2011
|
الموضوعات: |