Reliability of nanoscale circuits and systems : methodologies and circuit architectures /

Includes bibliographical references (p. 177-190) and index

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: 515324 Stanisavljevic, Milos, Schmid, Alexandre, Leblebici, Yusuf
Μορφή:
Γλώσσα:eng
Έκδοση: New York : Springer, 2011
Θέματα: