Reliability of nanoscale circuits and systems : methodologies and circuit architectures /
Includes bibliographical references (p. 177-190) and index
| Päätekijät: | , , |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | |
| Kieli: | eng |
| Julkaistu: |
New York : Springer,
2011
|
| Aiheet: |