Data mining and diagnosing IC fails /

Data mining and diagnosing IC fails /

16

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: 278808 Huisman, Leendert M.
Formatua:
Hizkuntza:eng
Argitaratua: New York, NY : Springer Verlag, 2005
Gaiak:
Integrated circuits
Semiconductors
Data mining
Deskribapena
Gaia:16

Antzeko izenburuak