Data mining and diagnosing IC fails /

Data mining and diagnosing IC fails /

16

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: 278808 Huisman, Leendert M.
Aineistotyyppi:
Kieli:eng
Julkaistu: New York, NY : Springer Verlag, 2005
Aiheet:
Integrated circuits
Semiconductors
Data mining
Kuvaus
Yhteenveto:16

Samankaltaisia teoksia