Face image quality inspection system according to ISO standard [electronic resource] /

Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2012

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Ong, Paik Wen, 1982-
Formato:
Idioma:eng
Publicado em: 2012
Assuntos:
Descrição
Resumo:Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2012