Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /

Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /

PSZJBL

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Klapetek, Petr
Format:
Sprache:eng
Veröffentlicht: Amsterdam : William Andrew/Elsevier, 2013
Schlagworte:
Scanning probe microscopy
Qualitative research

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