Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /

PSZJBL

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Klapetek, Petr
פורמט:
שפה:	eng
יצא לאור:	Amsterdam : William Andrew/Elsevier, 2013
נושאים:	Scanning probe microscopy Qualitative research

פריטים דומים