Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /

PSZJBL

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Klapetek, Petr
Ձևաչափ:
Լեզու:	eng
Հրապարակվել է:	Amsterdam : William Andrew/Elsevier, 2013
Խորագրեր:	Scanning probe microscopy Qualitative research

Նմանատիպ նյութեր