Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /
PSZJBL
Үндсэн зохиолч: | |
---|---|
Формат: | |
Хэл сонгох: | eng |
Хэвлэсэн: |
Amsterdam : William Andrew/Elsevier,
2013
|
Нөхцлүүд: |
PSZJBL
Үндсэн зохиолч: | |
---|---|
Формат: | |
Хэл сонгох: | eng |
Хэвлэсэн: |
Amsterdam : William Andrew/Elsevier,
2013
|
Нөхцлүүд: |