Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /
PSZJBL
Главный автор: | |
---|---|
Формат: | |
Язык: | eng |
Опубликовано: |
Amsterdam : William Andrew/Elsevier,
2013
|
Предметы: |
PSZJBL
Главный автор: | |
---|---|
Формат: | |
Язык: | eng |
Опубликовано: |
Amsterdam : William Andrew/Elsevier,
2013
|
Предметы: |