Caracterisation de structures mos submicroniques et analyse de defauts induits par irradiation gamma : extrapolation aux defauts induits dans les oxydes transistors bipolaires /

Thesis (Phd. Electronic )- Univrsite de Metz, 1999

Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoir: Hazri Bakhtiar 497364
Formáid:
Teanga:fre
Foilsithe / Cruthaithe: France : Universite de Metz, 1999
Ábhair: