Caracterisation de structures mos submicroniques et analyse de defauts induits par irradiation gamma : extrapolation aux defauts induits dans les oxydes transistors bipolaires /
Thesis (Phd. Electronic )- Univrsite de Metz, 1999
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| Мова: | fre |
| Опубліковано: |
France : Universite de Metz,
1999
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