Caracterisation de structures mos submicroniques et analyse de defauts induits par irradiation gamma : extrapolation aux defauts induits dans les oxydes transistors bipolaires /
Thesis (Phd. Electronic )- Univrsite de Metz, 1999
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | |
| Լեզու: | fre |
| Հրապարակվել է: |
France : Universite de Metz,
1999
|
| Խորագրեր: |