Test vectors reduction for integrated circuit testing using horizontal hamming distance - Arbab Alamgir, 1991-, author 604435; Abu Khari A'ain supervisor 639398; Fakulti Kejuruteraan Elektrik 540663 (Johor Bahru, Johor : Universiti Teknologi Malaysia, 2016)
Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2016