Pular para o conteúdo
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Todos os campos
Título
Autor
Assunto
Número de Chamada
ISBN/ISSN
Tag
Buscar
Avançada
Audit criticality measurement...
Citar
Enviar por SMS
Enviar por e-mail
Imprimir
Exportar registro
Exportar para RefWorks
Exportar para EndNoteWeb
Exportar para EndNote
Link permanente
Audit criticality measurement for EDP applications /
12
Detalhes bibliográficos
Autor principal:
257448 Hubbert, James F.
Formato:
Assuntos:
Electronic data processing
Itens
Descrição
Registros relacionados
Registro fonte
Descrição
Resumo:
12
Registros relacionados
Structured EDP auditing /
por: Rothberg, Gabriel B., author
Publicado em: (c198)
Auditing EDP systems /
por: Watne, Donald A., et al.
Publicado em: (c198)
EDP, controls and auditing /
por: 193089 Porter, W. Thomas, et al.
Publicado em: (1981)
EDP, controls and auditing /
por: 193089 Porter, W. Thomas, et al.
Publicado em: (c198)
EDP audit & controls ' : a better realization of EDP audit & control in Malaysia/
por: Seminar on EDP Audit & Controls 'a Better Realization of EDP Audit & Control in Malaysia (1992 : Kuala Lumpur)
Publicado em: ([199)