Development of automatic test pattern generation /

Development of automatic test pattern generation /

Project Paper (Sarjana Muda Kejuruteraan (Elektrik - Elektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2017

Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Tang, Soon Loong, 1993- , author, Norlina Paraman, supervisor, Fakulti Kejuruteraan Elektrik
Format:
Langue:eng
Publié: Johor Bahru, Johor : Universiti Teknologi Malaysia, 2017
Sujets:
Electronic circuits
Integrated circuit layout
Description
Résumé:Project Paper (Sarjana Muda Kejuruteraan (Elektrik - Elektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2017

Documents similaires