Atom Probe Microscopy /

Atom Probe Microscopy /

Includes bibliographical references and index.

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Gault, Baptiste author 632642, Moody, Michael P. author 632643, Cairney, Julie M. author 632644, Ringer, Simon P. author 632645
Ձևաչափ: text
Լեզու:eng
Հրապարակվել է: New York : Springer, 2012
Խորագրեր:
Atomic force microscopy
Scanning probe microscopy
Atom-probe field ion microscopy

Նմանատիպ նյութեր