Atom Probe Microscopy /

Atom Probe Microscopy /

Includes bibliographical references and index.

Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: Gault, Baptiste author 632642, Moody, Michael P. author 632643, Cairney, Julie M. author 632644, Ringer, Simon P. author 632645
Formaat: text
Taal:eng
Gepubliceerd in: New York : Springer, 2012
Onderwerpen:
Atomic force microscopy
Scanning probe microscopy
Atom-probe field ion microscopy

Gelijkaardige items