Atom Probe Microscopy /

Atom Probe Microscopy /

Includes bibliographical references and index.

Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Gault, Baptiste author 632642, Moody, Michael P. author 632643, Cairney, Julie M. author 632644, Ringer, Simon P. author 632645
Format: text
Język:eng
Wydane: New York : Springer, 2012
Hasła przedmiotowe:
Atomic force microscopy
Scanning probe microscopy
Atom-probe field ion microscopy

Podobne zapisy