Atom Probe Microscopy /

Atom Probe Microscopy /

Includes bibliographical references and index.

Бібліографічні деталі
Автори: Gault, Baptiste author 632642, Moody, Michael P. author 632643, Cairney, Julie M. author 632644, Ringer, Simon P. author 632645
Формат: text
Мова:eng
Опубліковано: New York : Springer, 2012
Предмети:
Atomic force microscopy
Scanning probe microscopy
Atom-probe field ion microscopy

Схожі ресурси