Using scanexpresstpg in boundry - scan test /

Project Paper (Sarjana Muda Kejuruteraan (Elektrik - Elektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2006

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	358651 Ong, Shue Ling
বিন্যাস:
ভাষা:	eng
প্রকাশিত:	2006
বিষয়গুলি:	Boundary scan testing Printed circuits

অনুরূপ উপাদানগুলি