Análisis microestructural de películas delgadas nano estructuradas de Zn O

Análisis microestructural de películas delgadas nano estructuradas de Zn O

Presentamos los resultados experimentales obtenidos del análisis microestructural de películas delgadas de ZnO con 20, 50 y 100 nm de espesor, crecidas sobre el sustrato de vidrio comercial por pulverización catódica reactiva. Analizamos la información cuantitativa sobre tamaño de los dominios crist...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors:	M.A. Urbina-Yarupetán, Juan Gonzalez
Format:	Article
Language:	English
Published:	Instituto de Investigación de Física 2020-12-01
Series:	Revista de Investigación de Física
Subjects:	pulverización catódica reactiva Capas delgadas de ZnO MEB RRX DRX
Online Access:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/20297

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