کاربرد روش تجزیه و تحلیل ریخت‌شناسی در بخش‌بندی اتوماتیک شش لایه‌ی زیرین شبکیه در تصاویر Optical Coherence Tomography (OCT)
مقدمه: شبکیه، داخلی‌ترین بافت چشم است و به کمک عصب بینایی اطلاعات تصویری را به مغز ارسال می‌نماید. این بخش از چشم، ساختار لایه‌ای دارد و طراحی روشی که بتواند بدون تأثیر گرفتن از نوع اختلال تصویر و میزان آن و همچنین پایین بودن کنتراست تصویر، مرزهای لایه‌ها را به درستی مشخص نماید، از اهمیت فراوانی بر...
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | fas |
| Published: |
Isfahan University of Medical Sciences
2016-05-01
|
| Series: | مجله دانشکده پزشکی اصفهان |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://jims.mui.ac.ir/index.php/jims/article/view/5509 |
| Summary: | مقدمه: شبکیه، داخلی‌ترین بافت چشم است و به کمک عصب بینایی اطلاعات تصویری را به مغز ارسال می‌نماید. این بخش از چشم، ساختار لایه‌ای دارد و طراحی روشی که بتواند بدون تأثیر گرفتن از نوع اختلال تصویر و میزان آن و همچنین پایین بودن کنتراست تصویر، مرزهای لایه‌ها را به درستی مشخص نماید، از اهمیت فراوانی برخوردار می‌باشد. در این مطالعه، روش تلفیقی از دو روش تجزیه و تحلیل ریخت‌شناسی (MCA یا Morphological component analysis) و برنامه‌نویسی پویا (DP یا Dynamic programming) برای بخش‌بندی اتوماتیک شش لایه‌ی زیرین شبکیه به کار گرفته شد.
روش‌ها: پایگاه داده شامل 55 نمونه‌ی اخذ شده از افراد طبیعی با استفاده از دستگاه TOPCON-OCT-1000 بود. این مطالعه، در دو مرحله صورت گرفت. برای تجزیه و تحلیل ریخت‌شناسی، دیکشنری هر تصویر با استفاده از خوشه‌بندی برداری به کمک مقادیر ویژه (K-SVD) محاسبه گردید و سپس روش MCA، روی دیکشنری‌های حاصل شده اعمال گردید و بخش‌های کارتون و بافت تصویر با انتخاب پایه‌های مناسب تفکیک شد. بخش‌بندی به روش DP در تصویر کارتون اجرا گردید و سطوح Retinal pigment epithelium (RPE)، Verhoeff's memberane (VM)، Outer segment layer (OSL)، Inner collagenous layer (ICL)، Inner synaptic layer (ISL) و Outer limiting membrane (OLM) مشخص شدند.
یافته‌ها: با مقایسه‌ی نتایج به دست‌آمده با استانداردهای موجود، مشاهده شد که کمترین خطا، مربوط به سطح OSL با مقدار خطای 167/0 ± 030/0 بود. میزان خطای سطوح RPE، VM، ICL، ISL و OLM به ترتیب 33/0 ± 66/0-، 31/0 ± 59/0-، 49/0 ± 00/1-، 61/0 ± 72/1- و 51/0 ± 05/1- بود.
نتیجه‌گیری: تجزیه و تحلیل ریخت‌شناسی به کمک روش DP، می‌تواند به صورت یک روش اتوماتیک در بخش‌بندی شش لایه‌ی زیرین شبکیه عمل کند و بدون نیاز به انجام پیش پردازش، از صحت قابل قبولی در نتایج بخش‌بندی برخوردار است. |
|---|---|
| ISSN: | 1027-7595 1735-854X |