EVALUACIÓN DE TENSIONES RESIDUALES EN DISCOS COMPACTOS MEDIANTE EL MÉTODO FOTOELÁSTICO
La tensión residual y la orientación molecular en un material proporcionan información importante de su comportamiento. La presencia o ausencia de tensión residual determina la calidad de los plásticos usados para el almacenamiento de información y otros. En el presente trabajo, se implementó un mét...
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| Published: |
Instituto de Investigación de Física
2005-07-01
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| Series: | Revista de Investigación de Física |
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| description | La tensión residual y la orientación molecular en un material proporcionan información importante de su comportamiento. La presencia o ausencia de tensión residual determina la calidad de los plásticos usados para el almacenamiento de información y otros. En el presente trabajo, se implementó un método de ensayo no destructivo para la evaluación de los discos compactos, así como el almacenamiento de información en los mismos mediante el análisis óptico de tensión residual. Además se hizo un análisis cuantitativo del estado de tensión de diferentes marcas de CD. |
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| publisher | Instituto de Investigación de Física |
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| spelling | doaj.art-30b0cb7fb4da478cbb374508ca05b9192022-12-21T21:29:50ZengInstituto de Investigación de FísicaRevista de Investigación de Física1605-77241728-29772005-07-0180110.15381/rif.v8i01.8840EVALUACIÓN DE TENSIONES RESIDUALES EN DISCOS COMPACTOS MEDIANTE EL MÉTODO FOTOELÁSTICOM. Llosa D.0J. Gómez B.1M. Zapata B.2C. Aparicio Q.3D. Guillena4L. Zapata A.5Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos Ap. Postal 14-0149, Lima 14, Perú.Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos Ap. Postal 14-0149, Lima 14, Perú. Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima 25, Perú.Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima 25, Perú.Facultad de Ciencias Naturales y Matemática, Universidad Nacional Federico Villareal, Lima 21, Perú.. Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima 25, Perú.Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos Ap. Postal 14-0149, Lima 14, Perú.Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos Ap. Postal 14-0149, Lima 14, Perú.La tensión residual y la orientación molecular en un material proporcionan información importante de su comportamiento. La presencia o ausencia de tensión residual determina la calidad de los plásticos usados para el almacenamiento de información y otros. En el presente trabajo, se implementó un método de ensayo no destructivo para la evaluación de los discos compactos, así como el almacenamiento de información en los mismos mediante el análisis óptico de tensión residual. Además se hizo un análisis cuantitativo del estado de tensión de diferentes marcas de CD.https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8840Foto elasticidadanálisis de tensionesbirrefringencia. |
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