تعيين أيون الرصاص الاثر في الماء بالقياس الفولطا أمبيري النزعي المصعدي بإلكترود ملاط الكربون المعدل بمسحوق ورق الزيتون المجفف

يشكل تحضير حساس كهركيميائي وتطبيقه لمراقبة أيونات المعادن الثقيلة وتعينيها في البيئة أمراً ذا شأن. حضر هنا (لأول مرة) في هذه العمل إلكترود مبتكر من ملاط الكربون المعدل بمسحوق من ورق الزيتون المجفف لتعيين الرصاص Pb(II) في الماء. رسمت طيوف (FTIR) للمسحوق مع المعالجة بـ Pb(II) وبدونها, لتعرف المجموعات...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: د. لبنى الحمود, د. نسرين الشبه الوتار, د. أيمن المصري
Format: Article
Language:Arabic
Published: Damascus university 2021-08-01
Series:مجلة جامعة دمشق للعلوم الأساسية
Subjects:
Online Access:http://journal.damasuniv.edu.sy/index.php/basj/article/view/875
Description
Summary:يشكل تحضير حساس كهركيميائي وتطبيقه لمراقبة أيونات المعادن الثقيلة وتعينيها في البيئة أمراً ذا شأن. حضر هنا (لأول مرة) في هذه العمل إلكترود مبتكر من ملاط الكربون المعدل بمسحوق من ورق الزيتون المجفف لتعيين الرصاص Pb(II) في الماء. رسمت طيوف (FTIR) للمسحوق مع المعالجة بـ Pb(II) وبدونها, لتعرف المجموعات الوظيفية الموجودة في الإلكترود المعدل والتي تجعله قادرا على تحسس للرصاص (II) وغيره. ويتلخص مبدأ الطريقة, وهي من خطوتين, تتراكم في أولاهما الأيونات المعدنية للرصاص (II) على سطح الإلكترود المعدل عند كمون الدارة المفتوحة, يلي ذلك الخطوة الثانية التي يعين فيها الرصاص بالقياس الفولط أمبيري النزعي المصعدي النبضي التفاضلي (DPASV).“Differential Pulse Anodic Stripping Voltammetry”. استخدمت التقنيات الكهركيميائية لدراسة الأداء الكهركيميائي للإلكترود المعدل. ودرست أهم الشروط العملية المؤثرة في مختلف خطوات التقنية: نسبة المادة المعدلة في بنية الإلكترود، وزمن التراكم، وpH وسط التراكم، وطبيعة وسط النزع، وتيار النزع بدلالة التركيز. طبقت الطريقة على تراكيز متزايدة من Pb(II) في الماء ,وأنشئ البياني المعياري، تبين أنّ مجال الكشف الخطي  يقع بين 0.3ppm-  0.03ppmوأنّ حد الكشف يساوي 0.005539 وR2=0.9997 وذلك لدى زمن تراكم 14 دقيقة. يعدّ هذا العمل طريقة خضراء لتعيين الرصاص بتراكيز أثر بإلكترود ملاط الكربون معدل بمواد مبذولة وبطريقة سهلة ، خضراء، صديقة للبيئة وباستخدام تقنية كهركيميائية ذات حساسية ودقة عاليتين.
ISSN:1726-5487
2789-6366