Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.

Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.

En este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibración de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo propuesto ya funciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos...

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Bibliographic Details
Main Authors: Guillermo Juan Bergues, Clemar Schürrer, Juan Caselles, Nancy Brambilla
Format: Article
Language:English
Published: Universidad Tecnologica Nacional 2021-09-01
Series:Tecnología y Ciencia
Subjects:
plantilla de calibración
microscopio
procesamiento de imágenes
confocal
Online Access:https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/831

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