Estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora/XLPE y la eficiencia en cables de media tensión

Se estudiaron tres cables experimentales de media tensión: C2, C3 y C4; con aislamiento de polietileno reticulado (XLPE) denominados: Medio, Alto y Bajo en los test de perforación con tensiones sobre 150 kV. Los tres cables han sido medidos sistemáticamente mediante las técnicas del Pulso Electroacú...

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Main Authors: Idalberto Tamayo Ávila, José Manuel Nieto Jalil, Jorge Viteri, Juan Belana, José Antonio Diego
Format: Article
Language:English
Published: Universidad De La Salle Bajío 2014-10-01
Series:Nova Scientia
Subjects:
Online Access:http://novascientia.delasalle.edu.mx/ojs/index.php/Nova/article/view/63
_version_ 1818983004347826176
author Idalberto Tamayo Ávila
José Manuel Nieto Jalil
Jorge Viteri
Juan Belana
José Antonio Diego
author_facet Idalberto Tamayo Ávila
José Manuel Nieto Jalil
Jorge Viteri
Juan Belana
José Antonio Diego
author_sort Idalberto Tamayo Ávila
collection DOAJ
description Se estudiaron tres cables experimentales de media tensión: C2, C3 y C4; con aislamiento de polietileno reticulado (XLPE) denominados: Medio, Alto y Bajo en los test de perforación con tensiones sobre 150 kV. Los tres cables han sido medidos sistemáticamente mediante las técnicas del Pulso Electroacústico (PEA) y de las Corrientes de Despolarización Estimuladas Térmicamente (TSDC) usando un voltaje de polarización de 120 kV en muestras tal y como se reciben, tratadas térmicamente a 90 ºC y 120 ºC durante 672 horas. Las medidas de carga interna en el cable C4 son de un orden del doble que en los cables C2 y C3. El fenómeno de carga interfacial ha sido estudiado por espectroscopia infrarroja mediante la técnica de Reflectancia Total Atenuada (ATR) y muestra que hay componentes que migran, se difunden y se trasportan desde la capa semiconductora externa hacia el aislamiento de polietileno reticulado durante el tratamiento térmico del cable. Las medidas por PEA usando un campo eléctrico de 120 KV/mm muestran la formación y propagación de paquetes de carga de espacio desde el semiconductor (SC) hacia el aislamiento. Estos resultados son coherentes con las medidas mediante TSDC que muestran diferencias entre las áreas bajo la curva de corriente en función de la temperatura para los tres cables C2, C3 y C4 que es el resultado de la carga acumulada. Para resumir, la combinación de las mediciones PEA, TSDC y ATR son herramientas útiles para la comprensión de los procesos de relajación de carga de espacio y la eficiencia de los cables con aislamiento de XLPE.
first_indexed 2024-12-20T17:56:13Z
format Article
id doaj.art-3f0427afa4784eddbb2d4de268b8fbd1
institution Directory Open Access Journal
issn 2007-0705
language English
last_indexed 2024-12-20T17:56:13Z
publishDate 2014-10-01
publisher Universidad De La Salle Bajío
record_format Article
series Nova Scientia
spelling doaj.art-3f0427afa4784eddbb2d4de268b8fbd12022-12-21T19:30:44ZengUniversidad De La Salle BajíoNova Scientia2007-07052014-10-0161110.21640/ns.v6i11.63Estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora/XLPE y la eficiencia en cables de media tensiónIdalberto Tamayo Ávila0José Manuel Nieto Jalil1Jorge Viteri2Juan Belana3José Antonio Diego4Facultad de Ciencias de la Ingeniería Universidad Tecnológica EquinoccialDepartamento de ingeniería y Arquitectura, Instituto Tecnológico y de Estudios Superior de Monterrey Campus Sonora NorteFacultad de Ciencias de la Ingeniería Universidad Tecnológica EquinoccialDepartament Física i Enginyeria Nuclear, Universitat Politécnica de CatalunyaDepartament Física i Enginyeria Nuclear, Universitat Politécnica de CatalunyaSe estudiaron tres cables experimentales de media tensión: C2, C3 y C4; con aislamiento de polietileno reticulado (XLPE) denominados: Medio, Alto y Bajo en los test de perforación con tensiones sobre 150 kV. Los tres cables han sido medidos sistemáticamente mediante las técnicas del Pulso Electroacústico (PEA) y de las Corrientes de Despolarización Estimuladas Térmicamente (TSDC) usando un voltaje de polarización de 120 kV en muestras tal y como se reciben, tratadas térmicamente a 90 ºC y 120 ºC durante 672 horas. Las medidas de carga interna en el cable C4 son de un orden del doble que en los cables C2 y C3. El fenómeno de carga interfacial ha sido estudiado por espectroscopia infrarroja mediante la técnica de Reflectancia Total Atenuada (ATR) y muestra que hay componentes que migran, se difunden y se trasportan desde la capa semiconductora externa hacia el aislamiento de polietileno reticulado durante el tratamiento térmico del cable. Las medidas por PEA usando un campo eléctrico de 120 KV/mm muestran la formación y propagación de paquetes de carga de espacio desde el semiconductor (SC) hacia el aislamiento. Estos resultados son coherentes con las medidas mediante TSDC que muestran diferencias entre las áreas bajo la curva de corriente en función de la temperatura para los tres cables C2, C3 y C4 que es el resultado de la carga acumulada. Para resumir, la combinación de las mediciones PEA, TSDC y ATR son herramientas útiles para la comprensión de los procesos de relajación de carga de espacio y la eficiencia de los cables con aislamiento de XLPE.http://novascientia.delasalle.edu.mx/ojs/index.php/Nova/article/view/63Carga de espaciopolietileno reticulado (XLPE)Corrientes de Despolarización Estimuladas Térmicamente (TSDC)Pulso Electroacústico (PEA)Reflectancia Total Atenuada (ATR)
spellingShingle Idalberto Tamayo Ávila
José Manuel Nieto Jalil
Jorge Viteri
Juan Belana
José Antonio Diego
Estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora/XLPE y la eficiencia en cables de media tensión
Nova Scientia
Carga de espacio
polietileno reticulado (XLPE)
Corrientes de Despolarización Estimuladas Térmicamente (TSDC)
Pulso Electroacústico (PEA)
Reflectancia Total Atenuada (ATR)
title Estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora/XLPE y la eficiencia en cables de media tensión
title_full Estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora/XLPE y la eficiencia en cables de media tensión
title_fullStr Estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora/XLPE y la eficiencia en cables de media tensión
title_full_unstemmed Estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora/XLPE y la eficiencia en cables de media tensión
title_short Estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora/XLPE y la eficiencia en cables de media tensión
title_sort estudio de la carga de espacio en la interface capa semiconductora xlpe y la eficiencia en cables de media tension
topic Carga de espacio
polietileno reticulado (XLPE)
Corrientes de Despolarización Estimuladas Térmicamente (TSDC)
Pulso Electroacústico (PEA)
Reflectancia Total Atenuada (ATR)
url http://novascientia.delasalle.edu.mx/ojs/index.php/Nova/article/view/63
work_keys_str_mv AT idalbertotamayoavila estudiodelacargadeespacioenlainterfacecapasemiconductoraxlpeylaeficienciaencablesdemediatension
AT josemanuelnietojalil estudiodelacargadeespacioenlainterfacecapasemiconductoraxlpeylaeficienciaencablesdemediatension
AT jorgeviteri estudiodelacargadeespacioenlainterfacecapasemiconductoraxlpeylaeficienciaencablesdemediatension
AT juanbelana estudiodelacargadeespacioenlainterfacecapasemiconductoraxlpeylaeficienciaencablesdemediatension
AT joseantoniodiego estudiodelacargadeespacioenlainterfacecapasemiconductoraxlpeylaeficienciaencablesdemediatension