Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD

Se presenta un arreglo en Interferometría Holográfica Digital (IHD) para medir simultáneamente en 2D micro deformaciones en la superficie de objetos ópticamente rugosos. En el arreglo se usa una cámara 3CCD color y dos fuentes de luz láser de 458nm y 633nm que permite grabar simultáneamente dos holo...

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Main Authors: Tonatiuh Saucedo Anaya, Felipe Puch Ceballos
Format: Article
Language:English
Published: Universidad De La Salle Bajío 2014-10-01
Series:Nova Scientia
Subjects:
Online Access:http://novascientia.delasalle.edu.mx/ojs/index.php/Nova/article/view/66
_version_ 1818878710010347520
author Tonatiuh Saucedo Anaya
Felipe Puch Ceballos
author_facet Tonatiuh Saucedo Anaya
Felipe Puch Ceballos
author_sort Tonatiuh Saucedo Anaya
collection DOAJ
description Se presenta un arreglo en Interferometría Holográfica Digital (IHD) para medir simultáneamente en 2D micro deformaciones en la superficie de objetos ópticamente rugosos. En el arreglo se usa una cámara 3CCD color y dos fuentes de luz láser de 458nm y 633nm que permite grabar simultáneamente dos hologramas digitales. El arreglo se prueba en una placa metálica la cual es microscópicamente deformada al ser calentada ligeramente por un cautín. Los resultados experimentales muestran el potencial metrológico del sistema para caracterizar cantidades mecánicas en la estructura del objeto.
first_indexed 2024-12-19T14:18:30Z
format Article
id doaj.art-446fb94124f14e858906acd88cebc2b4
institution Directory Open Access Journal
issn 2007-0705
language English
last_indexed 2024-12-19T14:18:30Z
publishDate 2014-10-01
publisher Universidad De La Salle Bajío
record_format Article
series Nova Scientia
spelling doaj.art-446fb94124f14e858906acd88cebc2b42022-12-21T20:17:54ZengUniversidad De La Salle BajíoNova Scientia2007-07052014-10-0161110.21640/ns.v6i11.66Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCDTonatiuh Saucedo Anaya0Felipe Puch Ceballos1Unidad Académica de Física Universidad Autónoma de ZacatecasUnidad Académica de Física Universidad Autónoma de ZacatecasSe presenta un arreglo en Interferometría Holográfica Digital (IHD) para medir simultáneamente en 2D micro deformaciones en la superficie de objetos ópticamente rugosos. En el arreglo se usa una cámara 3CCD color y dos fuentes de luz láser de 458nm y 633nm que permite grabar simultáneamente dos hologramas digitales. El arreglo se prueba en una placa metálica la cual es microscópicamente deformada al ser calentada ligeramente por un cautín. Los resultados experimentales muestran el potencial metrológico del sistema para caracterizar cantidades mecánicas en la estructura del objeto.http://novascientia.delasalle.edu.mx/ojs/index.php/Nova/article/view/66Interferometría holográfica digitalmetrologíamicro deformacióncaracterización mecánica
spellingShingle Tonatiuh Saucedo Anaya
Felipe Puch Ceballos
Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD
Nova Scientia
Interferometría holográfica digital
metrología
micro deformación
caracterización mecánica
title Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD
title_full Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD
title_fullStr Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD
title_full_unstemmed Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD
title_short Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD
title_sort medicion simultanea en dos dimensiones por interferometria holografica digital utilizando dos laseres y una camara 3ccd
topic Interferometría holográfica digital
metrología
micro deformación
caracterización mecánica
url http://novascientia.delasalle.edu.mx/ojs/index.php/Nova/article/view/66
work_keys_str_mv AT tonatiuhsaucedoanaya medicionsimultaneaendosdimensionesporinterferometriaholograficadigitalutilizandodoslaseresyunacamara3ccd
AT felipepuchceballos medicionsimultaneaendosdimensionesporinterferometriaholograficadigitalutilizandodoslaseresyunacamara3ccd