Advanced atomic force microscopy techniques III

ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखकों: Thilo Glatzel, Thomas Schimmel
स्वरूप: लेख
भाषा:English
प्रकाशित: Beilstein-Institut 2016-07-01
श्रृंखला:Beilstein Journal of Nanotechnology
विषय:
ऑनलाइन पहुंच:https://doi.org/10.3762/bjnano.7.98