Effect of Process Parameters on Mode Conversion in Submicron Tapered Silicon Ridge Waveguides

The modal property and light propagation in tapered silicon ridge waveguides with different ridge heights are investigated for a silicon on insulator (SOI) platform with a 500 nm silicon (Si) thickness. Mode conversion between the transverse magnetic (TM) fundamental and higher-order transverse elec...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Zakriya Mohammed, Bruna Paredes, Mahmoud Rasras
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: MDPI AG 2021-03-01
Loạt:Applied Sciences
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://www.mdpi.com/2076-3417/11/5/2366

Những quyển sách tương tự