دراسة أطياف التألق السيني لأفلام رقيقة مصنوعة من أكسيد التوتياء المشوب بعنصر الألمنيوم
يعدّ هذا العمل استمراراً لدراسة أطياف تألق الأشعة السينية (XRL) X – ray luminescence لأكسيد التوتياء النقي والمشوب بعناصر مختلفة في الأفلام الرقيقة والبلورات والمساحيق المحضرة بطرائق تقنية متطورة. فقد قمنا بدراسة أطياف التألق ضمن المجال (200-700)nm لأفلام رقيقة من أكسيد التوتياء النقية والمشوبة ب...
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Arabic |
| Published: |
Tishreen University
2014-10-01
|
| Series: | مجلة جامعة تشرين للبحوث والدراسات العلمية، سلسلة العلوم الأساسية |
| Online Access: | http://www.journal.tishreen.edu.sy/index.php/bassnc/article/view/1173 |