Аналіз контрольно-вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитків
Проаналізовано контрольно-вимірювальні прилади і технології вимірювання, запропоновано спосіб покращення вимірювань для відтворення кольорових відбитків.
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute
2008-12-01
|
| Series: | Технологія і техніка друкарства |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://ttdruk.vpi.kpi.ua/article/view/58786 |
| _version_ | 1797762332944760832 |
|---|---|
| author | Тетяна Євгенівна Клименко |
| author_facet | Тетяна Євгенівна Клименко |
| author_sort | Тетяна Євгенівна Клименко |
| collection | DOAJ |
| description |
Проаналізовано контрольно-вимірювальні прилади і технології вимірювання, запропоновано спосіб покращення вимірювань для відтворення кольорових відбитків.
|
| first_indexed | 2024-03-12T19:26:49Z |
| format | Article |
| id | doaj.art-9067b9a2311a44cc8155ad12f13f701f |
| institution | Directory Open Access Journal |
| issn | 2077-7264 2414-9977 |
| language | English |
| last_indexed | 2024-03-12T19:26:49Z |
| publishDate | 2008-12-01 |
| publisher | Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute |
| record_format | Article |
| series | Технологія і техніка друкарства |
| spelling | doaj.art-9067b9a2311a44cc8155ad12f13f701f2023-08-02T04:50:31ZengIgor Sikorsky Kyiv Polytechnic InstituteТехнологія і техніка друкарства2077-72642414-99772008-12-013-4(21-22)10.20535/2077-7264.3-4(21-22).2008.58786Аналіз контрольно-вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитківТетяна Євгенівна Клименко0Видавничо-поліграфічний інститут Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут» (ВПІ НТУУ «КПІ») Проаналізовано контрольно-вимірювальні прилади і технології вимірювання, запропоновано спосіб покращення вимірювань для відтворення кольорових відбитків. http://ttdruk.vpi.kpi.ua/article/view/58786контрольно-вимірювальний приладтехнологія вимірюванняколірні характеристикивідбиток |
| spellingShingle | Тетяна Євгенівна Клименко Аналіз контрольно-вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитків Технологія і техніка друкарства контрольно-вимірювальний прилад технологія вимірювання колірні характеристики відбиток |
| title | Аналіз контрольно-вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитків |
| title_full | Аналіз контрольно-вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитків |
| title_fullStr | Аналіз контрольно-вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитків |
| title_full_unstemmed | Аналіз контрольно-вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитків |
| title_short | Аналіз контрольно-вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитків |
| title_sort | аналіз контрольно вимірювальних приладів та технологій вимірювання для відтворення колірних характеристик відбитків |
| topic | контрольно-вимірювальний прилад технологія вимірювання колірні характеристики відбиток |
| url | http://ttdruk.vpi.kpi.ua/article/view/58786 |
| work_keys_str_mv | AT tetânaêvgenívnaklimenko analízkontrolʹnovimírûvalʹnihpriladívtatehnologíjvimírûvannâdlâvídtvorennâkolírnihharakteristikvídbitkív |