Elektrokimyasal büyütme tekniğiyle büyütülen geçirgen NiO ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu
ITO altlık üzerine geçirgen NiO (nikel oksit) ince filmler farklı katodik akımlarda elektrokimyasal büyütme tekniği ile büyütülmüştür. Büyütme sonrası filmler 350 °C’de hava ortamında 2 sa. tavlanmıştır. X-ışını kırınım (XRD) örnekleri altlık üzerine büyütülen filmlerin (111), (200) ve (222) yöneli...
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Pamukkale University
2018-12-01
|
| Series: | Pamukkale University Journal of Engineering Sciences |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://dergipark.gov.tr/pajes/issue/41410/504325?publisher=pamukkale |
| _version_ | 1797920138118299648 |
|---|---|
| author | Kübra Çınar Demir |
| author_facet | Kübra Çınar Demir |
| author_sort | Kübra Çınar Demir |
| collection | DOAJ |
| description | ITO
altlık üzerine geçirgen NiO (nikel oksit) ince filmler farklı katodik akımlarda
elektrokimyasal büyütme tekniği ile büyütülmüştür. Büyütme sonrası filmler 350
°C’de hava ortamında 2 sa. tavlanmıştır. X-ışını kırınım (XRD) örnekleri altlık
üzerine büyütülen filmlerin (111), (200) ve (222) yönelimlere sahip tek fazlı
kübik yapılı polikristal olduklarını göstermiştir. Soğurma ölçümleriyle büyütülen NiO filmlerin
band aralığı 2.85 eV olarak hesaplanmıştır. 310-800 nm aralığında alınan
Fotolüminesans (PL) ölçümlerinden NiO ince filmlerin üç emisyon pikine sahip
olduğu görülmüştür. Taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve atomik kuvvet mikroskobu
(AFM) ile büyütülen filmlerin yüzey morfolojisi incelenmiştir. Fourier
Dönüşümlü İnfrared Spektroskopi (FTIR) analizleriyle filmlerin oluşumunda Ni-O
bağların titreşim modlarına sahip olduğu ortaya çıkarılmış ve filmlerin görünür
bölgede %50 ile %80 arasında ortalama bir optik geçirgenliğe sahip olduğu
görülmüştür. XPS ölçümleri Ni/O yönelimi ve farklı büyütme koşullarına bağlı
olarak büyütülen NiO filmlerin kimyasal bağlanma durumları gibi kimyasal
özelliklerini incelemek için gerçekleştirilmiştir. Raman ölçümleri
elektrokimyasal olarak büyütülen NiO filmlerinin stokiyometrik olmadığını
göstermiştir. Görüldüğü gibi, NiO nanoparçacıkların yoğunluğu ve morfolojisinin
optoelektronik aygıtların oluşumunda oldukça önemli olduğu anlaşılmıştır. |
| first_indexed | 2024-04-10T13:56:45Z |
| format | Article |
| id | doaj.art-907d5f23e1144f7f8d47a84fb5eaed6a |
| institution | Directory Open Access Journal |
| issn | 1300-7009 2147-5881 |
| language | English |
| last_indexed | 2024-04-10T13:56:45Z |
| publishDate | 2018-12-01 |
| publisher | Pamukkale University |
| record_format | Article |
| series | Pamukkale University Journal of Engineering Sciences |
| spelling | doaj.art-907d5f23e1144f7f8d47a84fb5eaed6a2023-02-15T16:10:27ZengPamukkale UniversityPamukkale University Journal of Engineering Sciences1300-70092147-58812018-12-0124713151324218Elektrokimyasal büyütme tekniğiyle büyütülen geçirgen NiO ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonuKübra Çınar DemirITO altlık üzerine geçirgen NiO (nikel oksit) ince filmler farklı katodik akımlarda elektrokimyasal büyütme tekniği ile büyütülmüştür. Büyütme sonrası filmler 350 °C’de hava ortamında 2 sa. tavlanmıştır. X-ışını kırınım (XRD) örnekleri altlık üzerine büyütülen filmlerin (111), (200) ve (222) yönelimlere sahip tek fazlı kübik yapılı polikristal olduklarını göstermiştir. Soğurma ölçümleriyle büyütülen NiO filmlerin band aralığı 2.85 eV olarak hesaplanmıştır. 310-800 nm aralığında alınan Fotolüminesans (PL) ölçümlerinden NiO ince filmlerin üç emisyon pikine sahip olduğu görülmüştür. Taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ile büyütülen filmlerin yüzey morfolojisi incelenmiştir. Fourier Dönüşümlü İnfrared Spektroskopi (FTIR) analizleriyle filmlerin oluşumunda Ni-O bağların titreşim modlarına sahip olduğu ortaya çıkarılmış ve filmlerin görünür bölgede %50 ile %80 arasında ortalama bir optik geçirgenliğe sahip olduğu görülmüştür. XPS ölçümleri Ni/O yönelimi ve farklı büyütme koşullarına bağlı olarak büyütülen NiO filmlerin kimyasal bağlanma durumları gibi kimyasal özelliklerini incelemek için gerçekleştirilmiştir. Raman ölçümleri elektrokimyasal olarak büyütülen NiO filmlerinin stokiyometrik olmadığını göstermiştir. Görüldüğü gibi, NiO nanoparçacıkların yoğunluğu ve morfolojisinin optoelektronik aygıtların oluşumunda oldukça önemli olduğu anlaşılmıştır.http://dergipark.gov.tr/pajes/issue/41410/504325?publisher=pamukkaleNiOXRDElectrochemical depositionSEMNiOXRDElektrokimyasal büyütmeSEM |
| spellingShingle | Kübra Çınar Demir Elektrokimyasal büyütme tekniğiyle büyütülen geçirgen NiO ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu Pamukkale University Journal of Engineering Sciences NiO XRD Electrochemical deposition SEM NiO XRD Elektrokimyasal büyütme SEM |
| title | Elektrokimyasal büyütme tekniğiyle büyütülen geçirgen NiO ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu |
| title_full | Elektrokimyasal büyütme tekniğiyle büyütülen geçirgen NiO ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu |
| title_fullStr | Elektrokimyasal büyütme tekniğiyle büyütülen geçirgen NiO ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu |
| title_full_unstemmed | Elektrokimyasal büyütme tekniğiyle büyütülen geçirgen NiO ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu |
| title_short | Elektrokimyasal büyütme tekniğiyle büyütülen geçirgen NiO ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu |
| title_sort | elektrokimyasal buyutme teknigiyle buyutulen gecirgen nio ince filmlerin hazirlanmasi ve karakterizasyonu |
| topic | NiO XRD Electrochemical deposition SEM NiO XRD Elektrokimyasal büyütme SEM |
| url | http://dergipark.gov.tr/pajes/issue/41410/504325?publisher=pamukkale |
| work_keys_str_mv | AT kubracınardemir elektrokimyasalbuyutmeteknigiylebuyutulengecirgennioincefilmlerinhazırlanmasıvekarakterizasyonu |