CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu
Bu çalışmada, CdS ince filmleri ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği kullanılarak üretildi. CdS ince filmlerinin optik özellikleri spektroskopik elipsometre ve UV-VIS spektrofotometre kullanılarak belirlendi. Cam tabanlar üzerine depolanan CdS ince filmlerinin optik özellikleri değişken açılardaki...
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Suleyman Demirel University
2014-12-01
|
| Series: | Süleyman Demirel Üniversitesi Fen-Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://dergipark.gov.tr/sdufeffd/issue/11280/134806?publisher=sdu-1 |
| _version_ | 1797906542201143296 |
|---|---|
| author | Olcay GENÇYILMAZ Ferhunde ATAY İdris AKYÜZ |
| author_facet | Olcay GENÇYILMAZ Ferhunde ATAY İdris AKYÜZ |
| author_sort | Olcay GENÇYILMAZ |
| collection | DOAJ |
| description | Bu çalışmada, CdS ince filmleri ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği kullanılarak üretildi. CdS ince filmlerinin optik özellikleri spektroskopik elipsometre ve UV-VIS spektrofotometre kullanılarak belirlendi. Cam tabanlar üzerine depolanan CdS ince filmlerinin optik özellikleri değişken açılardaki spektroskopik ellipsometre ölçüleri kullanılarak incelendi. Kalınlıkların ve optik sabitlerin hesaplamaları değişken açılardaki elipsometrik ölçümler kullanılarak yapıldı. En duyarlı gelme açısını belirlemek için çeşitli açılarda ölçümler yapıldı. Uygun gelme açısı, ï¹ ve ï„ grafikleri kullanılarak deneysel olarak elde edildi. CdS ince filmlerinin kalınlıklarını, kırılma indisi ve sönüm katsayısı değerlerini belirlemek için Cauchy-Urbach modeli kullanıldı. Ayrıca, geçirgenlik ölçümleri ve bant aralığı değerleri sırasıyla UV-VIS spektrofotometre ve optik metot kullanılarak belirlendi. Sonuç olarak, CdS ince filmlerinin kalınlık ve optik sabitler (kırılma indisi ve sönüm katsayısı) gibi optik özelikleri üzerine gelme açısının etkileri tartışılmıştır. |
| first_indexed | 2024-04-10T10:22:25Z |
| format | Article |
| id | doaj.art-9c75ee36a47f4763aa1cf630eeb171ee |
| institution | Directory Open Access Journal |
| issn | 1306-7575 |
| language | English |
| last_indexed | 2024-04-10T10:22:25Z |
| publishDate | 2014-12-01 |
| publisher | Suleyman Demirel University |
| record_format | Article |
| series | Süleyman Demirel Üniversitesi Fen-Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi |
| spelling | doaj.art-9c75ee36a47f4763aa1cf630eeb171ee2023-02-15T16:21:32ZengSuleyman Demirel UniversitySüleyman Demirel Üniversitesi Fen-Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi1306-75752014-12-01921371461113CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik KarakterizasyonuOlcay GENÇYILMAZFerhunde ATAYİdris AKYÜZBu çalışmada, CdS ince filmleri ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği kullanılarak üretildi. CdS ince filmlerinin optik özellikleri spektroskopik elipsometre ve UV-VIS spektrofotometre kullanılarak belirlendi. Cam tabanlar üzerine depolanan CdS ince filmlerinin optik özellikleri değişken açılardaki spektroskopik ellipsometre ölçüleri kullanılarak incelendi. Kalınlıkların ve optik sabitlerin hesaplamaları değişken açılardaki elipsometrik ölçümler kullanılarak yapıldı. En duyarlı gelme açısını belirlemek için çeşitli açılarda ölçümler yapıldı. Uygun gelme açısı, ï¹ ve ï„ grafikleri kullanılarak deneysel olarak elde edildi. CdS ince filmlerinin kalınlıklarını, kırılma indisi ve sönüm katsayısı değerlerini belirlemek için Cauchy-Urbach modeli kullanıldı. Ayrıca, geçirgenlik ölçümleri ve bant aralığı değerleri sırasıyla UV-VIS spektrofotometre ve optik metot kullanılarak belirlendi. Sonuç olarak, CdS ince filmlerinin kalınlık ve optik sabitler (kırılma indisi ve sönüm katsayısı) gibi optik özelikleri üzerine gelme açısının etkileri tartışılmıştır.http://dergipark.gov.tr/sdufeffd/issue/11280/134806?publisher=sdu-1-CdS thin film spectroscopic ellipsometry thickness optical constants and transmittanceCdS ince filmleri spektroskopik elipsometre kalınlık optik sabitler geçirgenlik |
| spellingShingle | Olcay GENÇYILMAZ Ferhunde ATAY İdris AKYÜZ CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu Süleyman Demirel Üniversitesi Fen-Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi - CdS thin film spectroscopic ellipsometry thickness optical constants and transmittance CdS ince filmleri spektroskopik elipsometre kalınlık optik sabitler geçirgenlik |
| title | CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu |
| title_full | CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu |
| title_fullStr | CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu |
| title_full_unstemmed | CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu |
| title_short | CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu |
| title_sort | cds ince filmlerinin degisik acilarda spektroelipsometrik karakterizasyonu |
| topic | - CdS thin film spectroscopic ellipsometry thickness optical constants and transmittance CdS ince filmleri spektroskopik elipsometre kalınlık optik sabitler geçirgenlik |
| url | http://dergipark.gov.tr/sdufeffd/issue/11280/134806?publisher=sdu-1 |
| work_keys_str_mv | AT olcaygencyilmaz cdsincefilmlerinindegisikacılardaspektroelipsometrikkarakterizasyonu AT ferhundeatay cdsincefilmlerinindegisikacılardaspektroelipsometrikkarakterizasyonu AT idrisakyuz cdsincefilmlerinindegisikacılardaspektroelipsometrikkarakterizasyonu |