Fabrication and micromagnetic modeling of barium hexaferrite thin films by RF magnetron sputtering

The synthesis and characterization of thin M-type barium hexaferrite (BaFe12O19 or BaM) films on silicon are reported. Multilayer in situ technique was employed to anneal the films at 850–900 °C for 10 min. The thickness dependence of the magnetic properties of the BaM films has been investigated us...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Alaaedeen R. Abuzir, Saed A. Salman
বিন্যাস: প্রবন্ধ
ভাষা:English
প্রকাশিত: Elsevier 2018-03-01
মালা:Results in Physics
অনলাইন ব্যবহার করুন:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2211379717316923