Yun, H., An, C., Jang, H., Cho, K., Lee, J., Eom, S., . . . Baek, R. (2023). Accurate Prediction and Reliable Parameter Optimization of Neural Network for Semiconductor Process Monitoring and Technology Development. Wiley.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Yun, Hyeok, et al. Accurate Prediction and Reliable Parameter Optimization of Neural Network for Semiconductor Process Monitoring and Technology Development. Wiley, 2023.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Yun, Hyeok, et al. Accurate Prediction and Reliable Parameter Optimization of Neural Network for Semiconductor Process Monitoring and Technology Development. Wiley, 2023.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.