熔锥型宽带耦合器偏振相关损耗研究

熔锥型宽带耦合器偏振相关损耗研究

研究了熔锥型宽带耦合器的偏振相关损耗（PDL）,发现构成宽带耦合器的两熔融光纤结构上的不对称是导致其PDL不能为0的根本原因。通过对宽带耦合器结构的优化设计,报道了目前PDL最低的宽带耦合器:1310nm窗口PDL≤0.05dB;1550nm窗口PDL≤0.07dB。...

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Bibliographic Details
Main Authors: 苏善行, 王涛, 周卫华
Format: Article
Language:zho
Published: 《光通信研究》编辑部 2005-01-01
Series:Guangtongxin yanjiu
Subjects:
熔锥型宽带耦合器;偏振相关损耗;预拉
Online Access:http://www.gtxyj.com.cn/thesisDetails#10.13756/j.gtxyj.2005.01.021
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