熔锥型宽带耦合器偏振相关损耗研究
研究了熔锥型宽带耦合器的偏振相关损耗（PDL）,发现构成宽带耦合器的两熔融光纤结构上的不对称是导致其PDL不能为0的根本原因。通过对宽带耦合器结构的优化设计,报道了目前PDL最低的宽带耦合器:1310nm窗口PDL≤0.05dB;1550nm窗口PDL≤0.07dB。...
| Main Authors: | , , |
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| Format: | Article |
| Language: | zho |
| Published: |
《光通信研究》编辑部
2005-01-01
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| Series: | Guangtongxin yanjiu |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.gtxyj.com.cn/thesisDetails#10.13756/j.gtxyj.2005.01.021 |