Liu, D., Chen, P., Chou, T., Hu, H., & Chen, K. (2021). Demonstration of Low-Temperature Fine-Pitch Cu/SiO₂ Hybrid Bonding by Au Passivation. IEEE.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Liu, Demin, Po-Chih Chen, Tzu-Chieh Chou, Han-Wen Hu, та Kuan-Neng Chen. Demonstration of Low-Temperature Fine-Pitch Cu/SiO₂ Hybrid Bonding by Au Passivation. IEEE, 2021.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Liu, Demin, et al. Demonstration of Low-Temperature Fine-Pitch Cu/SiO₂ Hybrid Bonding by Au Passivation. IEEE, 2021.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.