Cheng, Q., Rajauria, S., Schreck, E., Smith, R., Wang, N., Reiner, J., . . . Bogy, D. (2024). Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material. Elsevier.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Cheng, Qilong, Sukumar Rajauria, Erhard Schreck, Robert Smith, Na Wang, Jim Reiner, Qing Dai, e David Bogy. Protocol for Nanoscale Thermal Mapping of Electronic Devices Using Atomic Force Microscopy with Phase Change Material. Elsevier, 2024.
Citação MLA (9ª ed.)Cheng, Qilong, et al. Protocol for Nanoscale Thermal Mapping of Electronic Devices Using Atomic Force Microscopy with Phase Change Material. Elsevier, 2024.
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