Cheng, Q., Rajauria, S., Schreck, E., Smith, R., Wang, N., Reiner, J., . . . Bogy, D. (2024). Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material. Elsevier.
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերումCheng, Qilong, Sukumar Rajauria, Erhard Schreck, Robert Smith, Na Wang, Jim Reiner, Qing Dai, and David Bogy. Protocol for Nanoscale Thermal Mapping of Electronic Devices Using Atomic Force Microscopy with Phase Change Material. Elsevier, 2024.
MLA (9րդ խմբ.) ՄեջբերումCheng, Qilong, et al. Protocol for Nanoscale Thermal Mapping of Electronic Devices Using Atomic Force Microscopy with Phase Change Material. Elsevier, 2024.
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.