Cheng, Q., Rajauria, S., Schreck, E., Smith, R., Wang, N., Reiner, J., . . . Bogy, D. (2024). Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material. Elsevier.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Cheng, Qilong, Sukumar Rajauria, Erhard Schreck, Robert Smith, Na Wang, Jim Reiner, Qing Dai, и David Bogy. Protocol for Nanoscale Thermal Mapping of Electronic Devices Using Atomic Force Microscopy with Phase Change Material. Elsevier, 2024.
Цитирование MLA (9-е изд.)Cheng, Qilong, et al. Protocol for Nanoscale Thermal Mapping of Electronic Devices Using Atomic Force Microscopy with Phase Change Material. Elsevier, 2024.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.