Cheng, Q., Rajauria, S., Schreck, E., Smith, R., Wang, N., Reiner, J., . . . Bogy, D. (2024). Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material. Elsevier.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Cheng, Qilong, Sukumar Rajauria, Erhard Schreck, Robert Smith, Na Wang, Jim Reiner, Qing Dai, và David Bogy. Protocol for Nanoscale Thermal Mapping of Electronic Devices Using Atomic Force Microscopy with Phase Change Material. Elsevier, 2024.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Cheng, Qilong, et al. Protocol for Nanoscale Thermal Mapping of Electronic Devices Using Atomic Force Microscopy with Phase Change Material. Elsevier, 2024.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.