Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material

Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material

Summary: In this protocol, we present a facile nanoscale thermal mapping technique for electronic devices by use of atomic force microscopy and a phase change material Ge2Sb2Te5. We describe steps for Ge2Sb2Te5 thin film coating, Ge2Sb2Te5 temperature calibration, thermal mapping by varying heater p...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Qilong Cheng, Sukumar Rajauria, Erhard Schreck, Robert Smith, Na Wang, Jim Reiner, Qing Dai, David Bogy
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	Elsevier 2024-06-01
Серія:	STAR Protocols
Предмети:	Atomic Force Microscopy (AFM) Microscopy Physics Material sciences
Онлайн доступ:	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2666166724002041

Схожі ресурси

Protocol for live imaging of intracellular nanoscale structures using atomic force microscopy with nanoneedle probes
за авторством: Takehiko Ichikawa, та інші
Опубліковано: (2023-09-01)

Advanced atomic force microscopy-based techniques for nanoscale characterization of switching devices for emerging neuromorphic applications
за авторством: Young-Min Kim, та інші
Опубліковано: (2021-05-01)

Atomic force microscopy: A nanobiotechnology for cellular research
за авторством: Guangzhao Guan, та інші
Опубліковано: (2022-03-01)

Coupled molecular and cantilever dynamics model for frequency-modulated atomic force microscopy
за авторством: Michael Klocke, та інші
Опубліковано: (2016-05-01)

Polynomial force approximations and multifrequency atomic force microscopy
за авторством: Daniel Platz, та інші
Опубліковано: (2013-06-01)

Friction Determination by Atomic Force Microscopy in Field of Biochemical Science
за авторством: Yan Wang, та інші
Опубліковано: (2018-06-01)

Dynamic calibration of higher eigenmode parameters of a cantilever in atomic force microscopy by using tip–surface interactions
за авторством: Stanislav S. Borysov, та інші
Опубліковано: (2014-10-01)

Advanced atomic force microscopy techniques V
за авторством: Philipp Rahe, та інші
Опубліковано: (2025-01-01)

Atomic force microscopy and other scanning probe microscopy methods to study nanoscale domains in model lipid membranes
за авторством: Morgan Robinson, та інші
Опубліковано: (2023-12-01)

Direct observation of the Si(110)-(16×2) surface reconstruction by atomic force microscopy
за авторством: Tatsuya Yamamoto, та інші
Опубліковано: (2020-11-01)

Cells nanomechanics by atomic force microscopy: focus on interactions at nanoscale
за авторством: Guoqiao Zhou, та інші
Опубліковано: (2021-01-01)

Measuring external primary cell wall elasticity of seedling roots using atomic force microscopy
за авторством: Harinderbir Kaur, та інші
Опубліковано: (2023-06-01)

Atomic force microscopy /
за авторством: 491506 Eaton, Peter Jonathan, та інші
Опубліковано: (2010)

Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification
за авторством: Jahan Nusrat, та інші
Опубліковано: (2019-09-01)

Subsurface imaging of flexible circuits via contact resonance atomic force microscopy
за авторством: Wenting Wang, та інші
Опубліковано: (2019-08-01)

Measuring microenvironment-tuned nuclear stiffness of cancer cells with atomic force microscopy
за авторством: Amlan Barai, та інші
Опубліковано: (2021-03-01)

High-resolution dynamic atomic force microscopy in liquids with different feedback architectures
за авторством: John Melcher, та інші
Опубліковано: (2013-02-01)

Noncontact atomic force microscopy III
за авторством: Mehmet Z. Baykara, та інші
Опубліковано: (2016-06-01)

Noncontact atomic force microscopy II
за авторством: Mehmet Z. Baykara, та інші
Опубліковано: (2014-03-01)

Noncontact atomic force microscopy/
за авторством: Morita, S. (Seizo), 1948-, та інші
Опубліковано: (c200)

Surface Morphology of Fe(III)-Porphyrin Thin Layers as Characterized by Atomic Force Microscopy
за авторством: Utari Utari, та інші
Опубліковано: (2016-12-01)

Evaluation of Surface Structure and Morphological Phenomena of Caucasian Virgin Hair with Atomic Force Microscopy
за авторством: Karolina Krawczyk-Wołoszyn, та інші
Опубліковано: (2024-02-01)

Life at the nanoscale : atomic force microscopy of live cells /
за авторством: Dufrene, Yves
Опубліковано: (c201)

An atomic force microscope integrated with a helium ion microscope for correlative nanoscale characterization
за авторством: Santiago H. Andany, та інші
Опубліковано: (2020-08-01)

Scientific researches in atomic force microscopy /
за авторством: Wright, Kate, editor
Опубліковано: (2015)

ATOMIC-FORCE MICROSCOPY AND ITS APPLICATIONS /
за авторством: editor, та інші
Опубліковано: (2019)

Damage Behavior with Atomic Force Microscopy on Anti-Bacterial Nanostructure Arrays
за авторством: Jonathan Wood, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy /
за авторством: Cohen, Samuel H., та інші
Опубліковано: (1994)

Protocol on Tissue Preparation and Measurement of Tumor Stiffness in Primary and Metastatic Colorectal Cancer Samples with an Atomic Force Microscope
за авторством: Ying Shen, та інші
Опубліковано: (2020-12-01)

Methods for Studying Endometrial Pathology and the Potential of Atomic Force Microscopy in the Research of Endometrium
за авторством: Agnieszka Kurek, та інші
Опубліковано: (2021-01-01)

Atomic force microscopy : biomedical methods and applications /
за авторством: Braga, Pier Carlo, та інші
Опубліковано: (2004)

Advanced atomic force microscopy techniques III
за авторством: Thilo Glatzel, та інші
Опубліковано: (2016-07-01)

High-Yield Characterization of Single Molecule Interactions with DeepTip<sup>TM</sup> Atomic Force Microscopy Probes
за авторством: Daniel Corregidor, та інші
Опубліковано: (2022-12-01)

Imaging Structures and Measuring Forces at Nanoscales with Atomic Force Microscopy
за авторством: Nguyen V. Anh
Опубліковано: (2005-11-01)

Purification and preparation of Rhodobacter sphaeroides reaction centers for photocurrent measurements and atomic force microscopy characterization
за авторством: Daniel Jun, та інші
Опубліковано: (2022-03-01)

Atomic force microscopy for biologists /
за авторством: 318144 Morris, V. J., та інші
Опубліковано: (2010)

Energy dissipation in multifrequency atomic force microscopy
за авторством: Valentina Pukhova, та інші
Опубліковано: (2014-04-01)

Effect of Eigenmode Frequency on Loss Tangent Atomic Force Microscopy Measurements
за авторством: Babak Eslami, та інші
Опубліковано: (2021-07-01)

Measuring ventral nerve cord stiffness in live flat-dissected Drosophila embryos by atomic force microscopy
за авторством: Katerina Karkali, та інші
Опубліковано: (2022-12-01)

Atom Filtering Algorithm and GPU-Accelerated Calculation of Simulation Atomic Force Microscopy Images
за авторством: Romain Amyot, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)