Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material
Summary: In this protocol, we present a facile nanoscale thermal mapping technique for electronic devices by use of atomic force microscopy and a phase change material Ge2Sb2Te5. We describe steps for Ge2Sb2Te5 thin film coating, Ge2Sb2Te5 temperature calibration, thermal mapping by varying heater p...
Những tác giả chính: | Qilong Cheng, Sukumar Rajauria, Erhard Schreck, Robert Smith, Na Wang, Jim Reiner, Qing Dai, David Bogy |
---|---|
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Elsevier
2024-06-01
|
Loạt: | STAR Protocols |
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2666166724002041 |
Những quyển sách tương tự
-
Protocol for live imaging of intracellular nanoscale structures using atomic force microscopy with nanoneedle probes
Bằng: Takehiko Ichikawa, et al.
Được phát hành: (2023-09-01) -
Advanced atomic force microscopy-based techniques for nanoscale characterization of switching devices for emerging neuromorphic applications
Bằng: Young-Min Kim, et al.
Được phát hành: (2021-05-01) -
Atomic force microscopy: A nanobiotechnology for cellular research
Bằng: Guangzhao Guan, et al.
Được phát hành: (2022-03-01) -
Coupled molecular and cantilever dynamics model for frequency-modulated atomic force microscopy
Bằng: Michael Klocke, et al.
Được phát hành: (2016-05-01) -
Polynomial force approximations and multifrequency atomic force microscopy
Bằng: Daniel Platz, et al.
Được phát hành: (2013-06-01)