Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material

Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material

Summary: In this protocol, we present a facile nanoscale thermal mapping technique for electronic devices by use of atomic force microscopy and a phase change material Ge2Sb2Te5. We describe steps for Ge2Sb2Te5 thin film coating, Ge2Sb2Te5 temperature calibration, thermal mapping by varying heater p...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Qilong Cheng, Sukumar Rajauria, Erhard Schreck, Robert Smith, Na Wang, Jim Reiner, Qing Dai, David Bogy
Ձևաչափ: Հոդված
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Elsevier 2024-06-01
Շարք:STAR Protocols
Խորագրեր:
Atomic Force Microscopy (AFM)
Microscopy
Physics
Material sciences
Առցանց հասանելիություն:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2666166724002041

Համացանց

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2666166724002041

Նմանատիպ նյութեր