Effects of Gate Stack Composition and Thickness in 2-D Negative Capacitance FETs

Effects of Gate Stack Composition and Thickness in 2-D Negative Capacitance FETs

Negative capacitance (NC) field-effect transistors (FETs) with 2-D semiconducting channels have become increasingly attractive due to their ability to produce sub-60 mV/dec switching behavior in a physically scalable device. However, it has yet to be determined how gate control, including threshold...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Yuh-Chen Lin, Felicia McGuire, Steven Noyce, Nicholas Williams, Zhihui Cheng, Joseph Andrews, Aaron D. Franklin
Ձևաչափ: Հոդված
Լեզու:English
Հրապարակվել է: IEEE 2019-01-01
Շարք:IEEE Journal of the Electron Devices Society
Խորագրեր:
Negative capacitance
two-dimensional
2D
NC
2D FET
NC-FET
Առցանց հասանելիություն:https://ieeexplore.ieee.org/document/8735840/

Համացանց

https://ieeexplore.ieee.org/document/8735840/

Նմանատիպ նյութեր